DIN 41793 Bb.1-1971 用于通讯技术的半导体元件.电气参比测试法.一般说明
作者:标准资料网 时间:2024-05-22 12:27:15 浏览:9331
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【英文标准名称】:Lowpowersemiconductordevices;referencemeasuringconditions,general
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.电气参比测试法.一般说明
【标准号】:DIN41793Bb.1-1971
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【原文标准名称】:用于通讯技术的半导体元件.电气参比测试法.一般说明
【标准号】:DIN41793Bb.1-1971
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
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